 | 姓名 | 刘智 |
| 职务/职称 | 教师/讲师 | |
| 研究方向 | 人工智能安全、嵌入式应用和机器视觉应用 | |
| 联系方式 | 2023500003@jsut.edu.cn |
个人简介：
刘智，男，1988年生，讲师、硕导。先后于江苏技术师范学院、江苏科技大学、河海大学取得本科、硕士、博士学位，专业分别为电子信息工程、信号与信息处理、计算机科学与技术。2013至2018年在常州新科汽车电子、江苏国光信息产业股份有限公司从事工程师工作。以第一作者发表SCI论文3篇，授权发明专利2项，现为常州市人工智能协会会员。
主授课程：C语言程序设计、Python语言程序设计、人工智能通识课
荣誉与奖励：
1. 常州市高层次人才双岗互聘计划
论文发表
[1] Yang, A., Liu, Z., Guan, Y., Tan, T., & Shen, J. (2026). Evaluating and Enhancing YOLOv8’s Soft Error Resilience. Electronics.
[2] Liu, Z., Liu, Y., Chen, Z., Guo, G., & Wang, H. (2021). Analyzing and increasing soft error resilience of Deep Neural Networks on ARM processors. Microelectronics Reliability, 124, 114331.
[3] Liu, Z., & Yang, X. (2022). An efficient structure to improve the reliability of deep neural networks on ARMs. Microelectronics Reliability.
[4] Liu, Z., Deng, Z., & Yang, X. (2022). Using checksum to improve the reliability of embedded convolutional neural networks. Microelectronics Reliability.
[5] Wang, H., Peng, X., Liu, Z., Huang, X., Qiu, L., Li, T., Yang, B., & Chen, Y. (2024). Revisiting row hammer: A deep dive into understanding and resolving the issue. Microelectronics Reliability.
[6] Ibrahim, Y.M., Wang, H., Bai, M., Liu, Z., Wang, J., Yang, Z., & Chen, Z. (2020). Soft Error Resilience of Deep Residual Networks for Object Recognition. IEEE Access, 8, 19490-19503.
研究课题
1. 企业委托横向课题（KYH260**，经费50万），“基于大模型的上汽副仪表总成专机系统的研发”，项目主持人。
